製品データ
| 品番 | 4-5168-02 |
|---|---|
| 製品名称 | ＦＩＢ試料調整用試料台 ＳＧ－００３Ｎｉ 型番 : SG-003Ni |
| 商品名 | ＦＩＢ試料調整用試料台 ＳＧ－００３Ｎｉ |
| JANコード | 0000000000000 |
| 型番 | SG-003Ni |
| 定価（円・税抜） | 48000 |
| 特徴 | ●TEMでの観察・分析用に、FIB加工機で試料を薄片化する際に使用される試料台です。●薄くなっている試料固定部が3ヵ所あります。●高純度素材を使用しています。●試料固定部認識用ピンホール・表裏認識用円形パターンがあります。 |
| 仕様 | ●材質：ニッケル●★厚み（μm）：30●入数：1箱（30枚入）●ベース部直径：約3mm●※寸法は保証値ではございません。製品毎にばらつきがございますのでご了承下さい。 |
製品カテゴリ
| 大分類名 | 計測・測定・検査 |
|---|---|
| 中分類名 | 顕微鏡・光学関連品 |
| 小分類名 | その他（９コード） |
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